BS IEC 60747-14-4-2011 半导体器件.分立器件.半导体加速器
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时间:2024-05-21 21:53:53
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【英文标准名称】:Semiconductordevices.Discretedevices.Semiconductoraccelerometers
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件.半导体加速器
【标准号】:BSIEC60747-14-4-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-02-28
【实施或试行日期】:2011-02-28
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速度;加速计;校正;元部件;定义(术语);分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;检验;集成电路;字母符号;寿命;作标记;测量;测量技术;可靠性;半导体器件;半导体;灵敏度;符号;测试
【英文主题词】:Acceleration;Accelerometers;Calibration;Components;Definitions;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Inspection;Integratedcircuits;Lettersymbol;Life(durability);Marking;Measurement;Measuringtechniques;Reliability;Semiconductordevices;Semiconductors;Sensitivity;Symbols;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:102P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件.半导体加速器
【标准号】:BSIEC60747-14-4-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-02-28
【实施或试行日期】:2011-02-28
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速度;加速计;校正;元部件;定义(术语);分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;检验;集成电路;字母符号;寿命;作标记;测量;测量技术;可靠性;半导体器件;半导体;灵敏度;符号;测试
【英文主题词】:Acceleration;Accelerometers;Calibration;Components;Definitions;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Inspection;Integratedcircuits;Lettersymbol;Life(durability);Marking;Measurement;Measuringtechniques;Reliability;Semiconductordevices;Semiconductors;Sensitivity;Symbols;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:102P;A4
【正文语种】:英语
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